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半導體測試板PCB

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產(chǎn)品名稱:半導體測試板PCB
產(chǎn)品用途:半導體測試
材料:生益TG170
板厚:3.0MM
線寬線距:4MIL/3MIL
過孔:0.2MM
阻抗控制:10%
表面處理工藝:鍍金10U
在線客服
產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品用途:半導體測試

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板厚:3.0MM

線寬線距:4MIL/3MIL

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表面處理工藝:鍍金10U


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產(chǎn)品用途:半導體測試
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表面處理工藝:鍍金10U
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